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2016ko April 26

El Centro Nacional de Microscopía Electrónica presenta uno de los microscopios más potentes del mundo

El Centro Nacional de Microscopía Electrónica, dependiente de la Universidad Complutense de Madrid, presentó ayer en Madrid uno de los microscopios electrónicos con mayor poder de resolución del mundo. Concretamente, se trata del microscopio JEOL JEM GRAND ARMD 300 cF, el segundo modelo que se instala en Europa y el tercero del mundo.

Al acto de presentación asistieron la directora general de Innovación y Competitividad del Ministerio de Economía y Competitividad, María Luisa Castaño; el Consejero de Educación, Juventud y Deporte de la Comunidad de Madrid, Rafael Van Grieken; el rector de la Universidad Complutense de Madrid, Carlos Andradas; y el director del Centro Nacional de Microscopía Electrónica, José González Calbet, entre otras personalidades.

Esta nueva infraestructura que acoge la UCM permitirá el avance de la investigación en aplicaciones relacionadas con las telecomunicaciones y el almacenamiento de energía, puesto que pueden visualizar elementos  ligeros como oxígeno, nitrógeno, carbono, litio e hidrógeno. Su resolución es óptima para el estudio de las estructuras atómicas de materiales funcionales, lo que permite la investigación de sus propiedades a un nivel hasta ahora no accesible para la comunidad científica española.

Esta infraestructura ha recibido 2,5 millones de euros del Fondo Europeo para el Desarrollo Regional (FEDER) a través del Programa Operativo de Investigación, Desarrollo e Innovación por y para beneficio de las Empresas-Fondo Tecnológico del periodo 2007-2013, gestionado por la Dirección General de Innovación y Competitividad del Ministerio de Economía y Competitividad.

Desde su inauguración en 1988, el Centro Nacional de Microscopía Electrónica ha ido incorporando los avances instrumentales más recientes en los distintos ámbitos de la microscopia electrónica. En los últimos años, ha incluido en su equipamiento la nueva generación emergente de microscopios electrónicos dotados de correctores de aberración capaces de alcanzar una resolución entre puntos inferior a 1 angstrom. El Centro forma parte de la Infraestructura Integrada de Microscopía Electrónica de Materiales (ELECMI) incorporado al Mapa Nacional de Infraestructuras Científicas y Técnicas Singulares (ICTS) aprobado por el Consejo de Política Científica, Tecnológica y de Innovación en 2014.

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